SMT制程溫控難控、虛焊頻發(fā)?紅外熱像儀,PCB熱缺陷一站式可視化檢測利器

01. 行業(yè)痛點:60%電子不良源于溫度異常
隨著電子產(chǎn)品微型化升級,BGA、QFN、0201微型元件成為SMT主流,高達60%的電子不良故障直接源于溫度異常波動,是生產(chǎn)良率的核心制約因素。
有以下原因:

02. 解決方案:非接觸全域紅外成像技術(shù)
配套SMT全流程專用紅外熱像儀,聚焦PCBA通電檢測與新品熱設(shè)計驗證核心場景,無需接觸即可捕捉整板全域溫度場,從源頭規(guī)避傳統(tǒng)單點測溫的盲區(qū)與滯后性。

全球尖端硬件 | |
| 主芯片采用 韓國SAMSUNG四核芯片 | 探測器采用 法國Lynred紅外探測器 |
FPGA采用 美國Xilinx可編程邏輯器件 | 電源芯片采用 美國Texas Instruments芯片 |

翻倍幀頻,捕捉細微的溫度變化
全輻射幀頻提升至60H2,感受更流暢、更清晰的圖像!

研發(fā)專用測試臺,輕松實現(xiàn)升降、旋轉(zhuǎn)、固定等實用調(diào)節(jié)動作
20um、50μm和100um可選鏡頭,助力用戶獲取微觀結(jié)構(gòu)溫度分布熱圖及詳細溫度數(shù)據(jù)
手動對焦設(shè)計,更有利于精細準確對焦,以便獲取精準熱圖

應(yīng)用案例
FOTRIC熱像儀搭配20μm微距鏡拍攝電極蝕刻


電子設(shè)備的可靠性、壽命與溫度緊密相關(guān)。電路板,尤其是功率電路的發(fā)熱受設(shè)計、器件選型、散熱設(shè)計、生產(chǎn)工藝等因素影響,需要大量測試與優(yōu)化,以保證推向市場的產(chǎn)品性能穩(wěn)定。



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